Autors:
Vērtējums:
Publicēts: 29.01.2024.
Valoda: Latviešu
Līmenis: Augstskolas
Literatūras saraksts: Nav
Atsauces: Nav
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 1.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 2.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 3.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 4.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 5.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 6.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 7.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 8.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 9.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 10.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 11.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 12.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 13.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 14.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 15.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 16.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 17.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 18.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 19.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 20.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 21.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 22.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 23.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 24.
  • Konspekts 'Atomu spēku mikroskopija', 25.
Darba fragmentsAizvērt

SECINĀJUMI

1. Vai visi datu kopnē esošie attēli tika uzņemti no viena un tā paša parauga? Pamatojiet savu atbildi.
Visi datu kopnē esošie attēli netika uzņemti no viena un tā paša parauga, jo no pētāmajiem attēliem iegūti būtiski atšķirīgi virsmas raupjuma parametri. Piemēram, vidējais virsmas raupjums no visiem attēliem ir robežās no 1,91 nm līdz 31,51 nm. Tāpat arī, analizējot paraugu ekscesa koeficienta vērtību, iespējams noteikt, ka tikai pusei no paraugiem ir izteikti asi nelīdzenumu pīķi. Par to, ka visi attēli nav uzņemti no viena un tā paša parauga, liecina arī virsmas graudu izmēri – katram attēlam tie ir atšķirīgi un ir robežās no 0,0004 līdz 0,014 μm2 –, kā arī visos paraugos atšķiras graudu savstarpējais novietojums.

2. Kas varētu būt par attēlos novēroto artefaktu cēloni? Pamatojiet savu atbildi.
Attēlos novēroto artefaktu cēloņi varētu būt saistīti ar skenēšanas metodi un paraugu virsmas kvalitāti. Artefaktus rada, piemēram, zondes augstuma nelielas izmaiņas, kas attēlos redzamas kā skenēšanas līnijas. Neparedzētas zondes augstuma izmaiņas var radīt ne tikai pati mikroskopa darbība, bet arī, piemēram, vibrācijas no apkārtējās vides. Tāpat artefakti būs novērojami, ja parauga virsma nebūs pietiekami attīrīta vai arī ja tā būs kā citādi mehāniski bojāta (piemēram, saskrāpēta).…

Autora komentārsAtvērt
Atlants