Autors:
Vērtējums:
Publicēts: 07.02.2017.
Valoda: Latviešu
Līmenis: Augstskolas
Literatūras saraksts: 23 vienības
Atsauces: Nav
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 1.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 2.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 3.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 4.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 5.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 6.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 7.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 8.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 9.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 10.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 11.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 12.
  • Konspekts 'Infrasarkanās spektroskopijas pielietošanas iespējas', 13.
SatursAizvērt
Nr. Sadaļas nosaukums  Lpp.
1.  Ievads    2
2.  IS spektroskopijas pielietošana vides zinātnē    5
3.  IS spektroskopijas pielietošana astronomijā    6
4.  IS spektroskopijas pielietošana gemoloģijā    7
5.  IS spektroskopijas pielietošana farmācijā    8
6.  IS spektroskopijas pielietošana medicīnā    9
7.  IS spektroskopijas pielietošana elektronikā    10
  Literatūras saraksts    11
Darba fragmentsAizvērt

Pētiīuma mērķis ir izpētīt poraina silīcija dioksīda struktūru ar FT - IS - spektroskopiju. Šie
pētījumi tika veikti, izmantojot Furjē spektrometru – "Infralum FT - 801". Spektrometra darba spektra diapazons 550 cm–1 līdz 5500 cm-1.
Pēc spektra izskata var secināt par oksīda porainību. Ja oksīds nav parāk blīvs, to spektrā ir vērojama diezgan plaša absorbcijas josla. Pietiekami blīva un samērā perfekta termiski audzēta oksīda josla nav tik plaša.
Infrasarkanā spektroskopija atšķiras ar lielu daudzpusību, tas ļauj pētīt vielas visos tās agregātstāvokļos. Pie spektrālās metodes svarīgam priekšrocībam arī var piskaitīt, piemēram, augsto jutību (spēja reģistrēt pat dāžu molekulu spektrus) un tā nebojā paraugus.
Rezultāti paradīja, ka plēvēm spektrā ir raksturīgas saites Si–O, C–O un O–H, tas viss norāda uz to amorfo struktūru. Plēvēm arī bija aprēķināta Si–O saišu koncentrācija(sk. 7.1.1. tab.). Dati paradīja, ka paraugiem ir laba porainība.

Autora komentārsAtvērt
Atlants